主營產品:

磁導率儀,磁導率測定儀,金屬電導率儀,激光涂層測厚儀,超聲波C掃描系統,鈍化膜測試儀,電導率測量儀,渦流探傷儀

產品資料

美國泛美超聲波延遲探頭

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 美國泛美超聲波延遲探頭
產品型號: C541-SM
產品展商: 美國泛美
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簡單介紹

美國泛美超聲波延遲探頭C541-SM 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時,還表現出極好的防磨特性。美國泛美超聲波延遲探頭C541-SM可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設計。

詳細介紹

美國泛美超聲波延遲探頭C541-SM

袖珍角度聲束探頭和楔塊主要用于檢測焊縫的完整性。由于這種探頭和楔塊組合件的設計特點,這種組合件很容易進行前后掃查,并得到較短的接近距離。


應用

? 缺陷探測與定量。
? 要了解衍射時差探頭,請參閱第35頁。
? 檢測管道、管件、鍛件、鑄件,機加工部件和結構部件上的焊縫缺陷或裂縫。

? 旋入式設計,303不銹鋼外殼。
? 不同頻率的探頭顏色不同。
? 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。
袖珍角度聲束探頭和楔塊主要用于檢測焊縫的完整性。由于這種探頭和楔塊組合件的設計特點,這種組合件很容易進行前后掃查,并得到較短的接近距離。

美國泛美超聲波延遲探頭C541-SM

袖珍旋入式toFd探頭:

頻率

標稱晶片尺寸

探頭工件編號

外殼

類型

外殼螺距

MHz

英寸

毫米

2.25

0.25

6

C542-SM

ST1

3/8 - 32

0.375

9.5

C566-SM

ST2

11/16 - 24

0.5

12

C540-SM

ST2

11/16 - 24

5

0.125

3

C567-SM

ST1

3/8 - 32

0.25

6

C543-SM

ST1

3/8 - 32

0.375

9.5

C568-SM

ST2

11/16 - 24

0.5

12

C541-SM

ST2

11/16 - 24

10

0.125

3

C563-SM

ST1

3/8 - 32

0.25

6

C544-SM

ST1

3/8 - 32

15

0.125

3

V564-SM*

ST1

3/8 - 32

*活動晶片為標準壓電陶瓷(沒有復合材料的活動晶片)。

美國泛美超聲波延遲探頭C541-SM

袖珍旋入式toFd楔塊

ST1型楔塊

ST2型楔塊

折射縱波角度

楔塊選項

ST1-45L

ST2-45L

45°

標準

ST1-45L-IHC

ST2-45L-IHC

45°

灌溉*

ST1-60L

ST2-60L

60°

標準

ST1-60L-IHC

ST2-60L-IHC

60°

灌溉*

ST1-70L

ST2-70L

70°

標準

ST1-70L-IHC

ST2-70L-IHC

70°

灌溉*

*還包含碳化物防磨銷釘。



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