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磁導率儀,磁導率測定儀,金屬電導率儀,激光涂層測厚儀,超聲波C掃描系統,鈍化膜測試儀,電導率測量儀,渦流探傷儀

產品資料

奧林巴斯復合晶片探傷儀?探頭

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 奧林巴斯復合晶片探傷儀?探頭
產品型號: CHC706-RM
產品展商: 美國泛美
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹

奧林巴斯復合晶片探傷儀?探頭,奧林巴斯復合晶片探傷儀?探頭。

詳細介紹
奧林巴斯復合晶片探傷儀探頭
雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發射縱波,另一個晶片作為接收器接收聲波。


奧林巴斯復合晶片探傷儀探頭

應用

? 剩余壁厚測量。
? 腐蝕/侵蝕監控。
? 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。
? 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
? 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

? 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C800°F);7.5 MHz10 MHz的探頭可承受的*高溫度為175°C350°F)。表面溫度在90°C200°F)到425°C800°F)的情況下,建議使用的占空因數為*多10

 鐘接觸,然后進行*少1分鐘的空氣冷卻(不適用于袖珍尖端雙晶)。

? 金屬防磨環延長了探頭的壽命。
? 在探頭面需要重做表面處理時,防磨指示器會提供參考信息。
? 滾花,303不銹鋼外殼。


? 可更換線纜的設計(備有帶應變泄落功能的特殊雙線纜)。


奧林巴斯復合晶片探傷儀探頭

復合晶片齊頭外殼雙晶


頻率
標稱
晶片尺寸
探頭
工件編號
MHz
英寸
毫米
2.25
0.50
13
CHC706-RM


深圳市泰立儀器儀表有限公司
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